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| 작 성 일 | 2025-01-07 | 조 회 수 | 146 |
| 제 목 | [어플리케이션] Gate Charge를 정확하게 측정하는 방법을 알려드립니다. | ||
| 첨부파일 | How to Accurately Test and Characterize the Gate Charge (Qg) of SiC Devices.pdf | ||
| 내 용 |
SiC 전력반도체의 작동효율을 위해서는 Gate Charge(Qg)의 특성분석이 필수적입니다. JEDEC의 표준을 기반으로 다양한 Qg 테스트 방법을 소개해 드리고 키사이트의 솔루션을 이용해서 효율적이고 정확한 측정방법을 안내해 드립니다. Model : |
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