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| 작 성 일 | 2026-08-05 | 조 회 수 | 70 |
| 제 목 | [제이스 카탈로그] 전력반도체 특성평가 측정 솔루션 카탈로그 | ||
| 첨부파일 | Jays_Power_Semiconductor_Characterization_Solutions_Catalog.pdf | ||
| 내 용 |
전력반도체의 정적·동적 전기 특성과 열·전력 특성을 종합적으로 평가하기 위한 측정 솔루션을 소개합니다. 파라미터 분석, Double Pulse Test 기반 스위칭 분석, 열화상 및 고정밀 전력 분석까지 총 3가지 솔루션으로 구성되어 있으며, SiC, GaN, IGBT 등 다양한 전력반도체 소자의 연구개발과 특성평가에 필요한 장비 및 시스템 정보를 제공합니다. - 파라미터 분석 솔루션 : Keysight B1500A/B1505A/B1506A, 프로브 스테이션, J-Link Curve Tracer를 활용한 Vth, RDS(on), Breakdown Voltage, Leakage Current, IV/CV 특성 측정 - 전기적 특성 분석 솔루션 : IWATSU 로고스키 코일 전류 프로브와 IWATSU·Keysight 오실로스코프를 활용한 Double Pulse Test, Eon/Eoff, 스위칭 파형 및 링잉 분석 - 열·전력 분석 솔루션 : FLIR 열화상 카메라, HIOKI 데이터 로거 및 PW8001 전력분석기를 활용한 온도 분포, 전력 손실, 효율 및 다상 인버터 분석 - 자동·수동 프로브 스테이션 구성, 측정 자동화 소프트웨어, 고객 교육 및 측정 지원 서비스 안내 Model : |
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