작성일

2026-01-16

조회수

68

제  목

[어플리케이션] 펑션 발생기를 통한 집적회로(IC) 스트레스 테스트

첨부파일

Keysight_Stress Test Integrate Circuits (ICs).pdf

내  용

펑션 발생기를 통한 집적회로(IC) 스트레스 테스트

Model : 파형팔생기