포토디텍터 개발에서는 IV 커브와 과도 응답(Transient Response)을 모두 정확하게 평가하는 것이 매우 중요합니다. 기존의 벤치형 SMU는 nA 수준의 미세 전류 측정은 가능하지만, 느린 샘플링 속도로 인해 과도 응답을 정확하게 측정하는 데 한계가 있었습니다. 이로 인해 하나의 디바이스를 평가하기 위해서도 정밀 SMU와 고속 샘플링이 가능한 추가 계측기가 필요했습니다.
Keysight B2900C/CL Precision SMU는 이러한 문제를 해결합니다. 최대 10 fA, 100 nV의 초고해상도 측정 성능과 10 μs의 빠른 샘플링 간격을 동시에 제공하여, 매우 작은 전류뿐만 아니라 파형의 상승 구간(Rise Time)이나 광에 의해 발생하는 순간적인 전류 스파이크와 같은 빠른 과도 응답도 정확하게 측정할 수 있습니다.
또한 내장된 그래픽 디스플레이를 통해 별도의 PC 없이도 SMU 자체에서 파형을 직접 확인할 수 있어, 보다 효율적인 테스트 환경을 제공합니다.
Model : B2900C, B2901CL, B2910CL, B2901C, B2902C, B2911C, B2912C
고객 지원
