제품 소개
Solution 제품
• Probe Station은 반도체 칩이나 보드 안의 작은 패드에 Probe Tip이라는 미세한 바늘을 접촉함으로써, 칩의 전기적 특성을 확인할 수 있는 장비
• 계측기에 사용되는 기존의 Lead 선이나 Cable 대신 Probe Tip이 DUT에 Contact
• Module Test에서 측정하기 어려웠던 데이터도 DUT에 직접 Probing을 하여 데이터를 얻을 수 있음
Probe station(General Type)
-Wafer, Chip/RF&DC-
High Power Test
-Wafer, Chip/RF&DC-
Board Test Station(Single Side)
PCB, Board, Probe card/RF&DC
Board Test Station(Double Side)
PCB, Board, card/RF
Vaccum Station/Glove Box Station
Wafer, Chip/DC
Probe Tip(Hard & Varible Pitch)
-PCB, SI/PI Test-
RF/DC Positioner
RF/DC Positioner
Triaxial Cable & Cennector
Refurbish & Repair
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